- 电压击穿试验仪
- 介电常数
- 电阻率测试仪
- 粉末电阻率测试仪
- 导体、半导体电阻率
- 耐电弧测试仪
- 漏电起痕试验仪
- 17C.COM一起草入口:电池隔膜电弱点测试仪
- 橡胶塑料检测仪器
- 力学性能检测仪器
- 17C.COM一起草入口:海绵泡沫材料检测仪器
- 17C.COM一起草入口:受电弓/碳滑板检测仪器
- 材料热物理性能实验设备
- 热物性检测仪器
-
粉末测试设备
-
霍尔流速计
-
真密度测试仪
-
斯柯特容量计
-
休止角测定仪
-
粉末压实密度仪
-
振实密度测试仪
-
颗粒图像分析仪
-
全自动真密度仪
-
塑料流动性测定仪
-
粉尘安息角测试仪
-
多功能压力测量系统
-
17C.COM一起草入口:粉末自然堆积密度仪
-
17C.COM一起草入口:粉体综合物性测试仪
-
氧化铝流动角测定仪
-
塑料表观密度测试仪
-
17C.COM一起草入口:普通磨料堆积密度仪
-
白土堆积密度测定仪
-
氧化铝流动时间测定仪
-
17C.COM一起草入口:压实密度粉末电阻率仪
-
17C.COM一起草入口:陶粒砂体积密度测定仪
-
氧化铝松装密度测定仪
-
17C.COM一起草入口:表面活性剂表观密度仪
-
17C.COM一起草入口:自由流动堆积密度测定仪
-
17C.COM一起草入口:超硬材料堆积密度测定仪
-
霍尔流速计
- 比表面测试仪
- 电池检测
- 燃烧性能试验机
- 金属检测仪器
-
焙烧炉试验机
影响BET比表面积测试结果的主要因素有哪些?
影响BET比表面积测试结果的主要因素有哪些?
日期:2025-11-16 03:16
浏览次数:894
摘要: **,和样品预处理时间有关。以氢氧化镍为例,它的处理时间至少需要8h,由于其干燥过程容易板结,故处理温度不宜过高(一般90°C),由于处理温度不够高,需用加长时间来弥补。
**,和样品的处理温度有关。以氧化铝为例,它的处理温度一般是300°C。若降低其处理温度,容易造成测量结果偏低,且BET测量曲线的线性很差。
第三,和处理时的真空度有关。真空度偏低,使真空室的饱和蒸汽压偏高,样品表面处理不干净,这样都造成测量结果偏低(个别样品除外)。
第四,和称样量多少有关。样品量的多少和其自身的比表...
**,和样品预处理时间有关。以氢氧化镍为例,它的处理时间至少需要8h,由于其干燥过程容易板结,故处理温度不宜过高(一般90°C),由于处理温度不够高,需用加长时间来弥补。
**,和样品的处理温度有关。以氧化铝为例,它的处理温度一般是300°C。若降低其处理温度,容易造成测量结果偏低,且BET测量曲线的线性很差。
第三,和处理时的真空度有关。真空度偏低,使真空室的饱和蒸汽压偏高,样品表面处理不干净,这样都造成测量结果偏低(个别样品除外)。
第四,和称样量多少有关。样品量的多少和其自身的比表面的大小有关的,一般比表面越大,称样量越少。但是在样品管体积一定的情况下,量太多容易造成管路堵塞,太少容易出现脱附峰拖尾。所以选择合适的称样量是很有必要的。
第五,和测试样品的自身吸附特性有关。大部分样品处理后的比表面都大于处理前的比表面,但有的样品未处理时比表面很大,处理后反而变小。
第六,和仪器的类型有关,一般来说,静态容量法测得结果比流动色谱法测得的结果更加准确,这是由于前者测量的是吸附数据,后者测量的是脱附数据。若样品中存在不规则的孔,氮分子进入孔内后,脱附时,由于出口很小,就有可能不出来。造成脱附的数据失真。此外,由于热扩散的影响,也增加流动色谱法测量误差。
**,和样品的处理温度有关。以氧化铝为例,它的处理温度一般是300°C。若降低其处理温度,容易造成测量结果偏低,且BET测量曲线的线性很差。
第三,和处理时的真空度有关。真空度偏低,使真空室的饱和蒸汽压偏高,样品表面处理不干净,这样都造成测量结果偏低(个别样品除外)。
第四,和称样量多少有关。样品量的多少和其自身的比表面的大小有关的,一般比表面越大,称样量越少。但是在样品管体积一定的情况下,量太多容易造成管路堵塞,太少容易出现脱附峰拖尾。所以选择合适的称样量是很有必要的。
第五,和测试样品的自身吸附特性有关。大部分样品处理后的比表面都大于处理前的比表面,但有的样品未处理时比表面很大,处理后反而变小。
第六,和仪器的类型有关,一般来说,静态容量法测得结果比流动色谱法测得的结果更加准确,这是由于前者测量的是吸附数据,后者测量的是脱附数据。若样品中存在不规则的孔,氮分子进入孔内后,脱附时,由于出口很小,就有可能不出来。造成脱附的数据失真。此外,由于热扩散的影响,也增加流动色谱法测量误差。